DFT未來發展趨勢分析

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出版作者 董鍾明
出版單位 工研院IEK電子分項
出版日期 2004/05/17
出版類型 產業評析
所屬領域 半導體
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摘要

可測性設計(Design for Testability)雖然已經使用超過十年以上,但由於晶片複雜度不斷地增加,許多延用多年的可測性設計技術或是工具功能皆已不敷使用。業界也開始正視此一問題,紛紛提出新的解決方案,以因應百萬閘級以上的設計規模。...

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