本文所提到的奈米電子重要微縮技術,以Low-k材料、High-k閘極介電層及絕緣層上矽(SOI)為主,此專利分析是以美國專利商標局(U.S. Patent and Trademark Office;USPTO)之專利資料庫,利用Patent Pilot 1.3專利分析軟體以上述技術相關之關鍵字作為檢索條件,針對名稱(Title)及摘要(Abstract)欄位進行線上專利收集,其資料範圍取至2004...
若有任何問題,可使用下方檢索互動介面找解答,或是寫信到客服信箱。
星期一~五 9:00-12:30/13:30-18:00