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2004年全球IC ATE區域市場預測

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出版作者 張振堶
出版單位 工研院IEK系統能源組
出版日期 2004/01/31
出版類型 產業評析
所屬領域 資訊硬體
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摘要

半導體測試機台以測試產品種類作劃分,如記憶體(memory tester)、邏輯(logic tester)與混訊(Mixed Signal)IC等。2001年IC ATE市場需求因半導體業產能嚴重過剩,市場重挫至25.5億美元,2003年下半年各類IC元件ATE因半導體產業復甦而走強,IC測試在傳輸速率、頻率範圍與接腳點增加的品質要求下,需求更加殷切,預估2005年全球IC ATE需求將大幅成長...

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