====章節目錄====
第一章 緒論…1
第一節 研究目的…1
第二節 研究範圍…1
第三節 研究架構…2
第二章 測試技術發展現況與趨勢…3
第一節 由測試類型看技術發展…3
一、晶圓測試(Chip Probing/Wafer Sort) … 3
二、成品測試(Final Test) …6
第二節 由產品類型看技術發展…11
一、記憶體測試(Memory Test) …11
二、邏輯測試(Logic Test) …13
三、混合訊號測試(Mixed Signal Test)… 13
四、射頻測試(RF Test) …14
五、系統單晶片測試(SoC Test) …15
第三章 測試市場發展現況…19
第一節 全球測試市場…19
第二節 我國測試市場…21
第三節 大陸測試市場…27
第四章 測試產業前景探討…30
第一節 技術趨勢…30
一、晶圓測試漸受矚目，高彈性化的加值服務將帶來商機…30
二、DFT/BIST 技術為解決低成本測試問題的最佳策略…31
第二節 市場趨勢…32
一、混合訊號/SoC/RF 測試為未來市場焦點…32
二、強化自身實力、放眼大陸市場…35
第三節 經營趨勢…36
一、借他人之長補己之短，合作結盟經營型態大興…36
二、測試業與上游關聯緊密，赴大陸與否需多思量…39
第五章 結論與建議…41
====表目錄====
表一 全球前十大專業測試服務廠商排名…20
表二 我國測試業歷年重要指標…23
表三 測試業前五大廠商及產值集中度…23
表四 測試業營運績效指標…24
表五 我國測試業業務分佈比例(依營業額) …26
表六 我國測試業客戶型態分佈…26
表七 我國測試業接單型態分佈…27
====圖目錄====
圖一 研究架構…2
圖二 IC 生產流程…3
圖三 晶圓測試流程…4
圖四 成品測試流程…6
圖五 核心電路面積比重分佈…10
圖六 DDR II 帶動換機風潮浮現…12
圖七 RF 測試策略演進…15
圖八 典型的SoC 晶片…16
圖九 IEEE P1500 測試架構…18
圖十 全球主要測試營收比重預測…21
圖十一 2002 我國測試產品結構…25
圖十二 自動測試設備市場分佈…33
圖十三 自動測試設備市場分佈—記憶體產品分項…34
圖十四 矽品虛擬集團架構圖…38